Microscopía óptica
Técnica de caracterización que permite observar la microestructura de materiales a través de luz visible, identificando fases, defectos, nivel de porosidad, tamaño de grano y distribución microestructural en superficies pulidas o seccionadas. [Nota científica]
Ataque químico
Esta técnica basada en la norma ASTM E407–23 consiste en la aplicación controlada de reactivos químicos sobre la superficie pulida del material para revelar su microestructura. Permite identificar fases, límites de grano, segregaciones y defectos, facilitando el análisis estructural y la evaluación de tratamientos térmicos y procesos de manufactura.
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
Permite observar la topografía y microestructura superficial con alta resolución mediante electrones secundarios o retrodispersados. Ideal para análisis morfológico de polvos, análisis fractográfico, de porosidad y topografía de la superficie. Apto para muestras metálicas, cerámicas y biológicas.
Espectroscopía de dispersión de energía (EDX)
Técnica acoplada a SEM que permite identificar y semi cuantificar elementos químicos presentes en áreas específicas del material mediante análisis de rayos X característicos. En ensayo se puede hacer puntual, composición en una línea o un mapa de colores de composición de una imagen. Técnica utilizada en muestras con número atómico superior a 8.
Espectrometría por fluorescencia de rayos X (XRF)
Técnica no destructiva para el análisis químico elemental, utilizada para identificar y cuantificar el porcentaje existente de elementos de materiales sólidos, polvos o superficies con recubrimientos. Utilizada principalmente para determinar tipos de aceros según norma.
Espectrometría UV-Visible
Técnica analítica que mide la absorción de radiación ultravioleta y visible por parte de un material en función de la longitud de onda. Permite identificar especies químicas, analizar concentraciones, transiciones electrónicas y evaluar propiedades ópticas y químicas de muestras disueltas.